大多數(shù)普通天線的測量是測定其遠場的輻射特性，如方向圖(幅度、相位、極化)、旁瓣電平、增益、頻帶寬度等。本節(jié)將定義這些測量的基本概念。

測量輻射特性的典型配置?；静襟E是將一副發(fā)射或接收的源天線放在相對于待測天線(AUT)的遠場位置上，待測天線架設在可旋轉平臺上，旋轉待測天線，借以采集大量方向圖取樣值，實現(xiàn)天線輻射特性的測量。由于天線是電磁開放系統(tǒng)，測試環(huán)境對測量結果將產生影響，因此必須合理選擇測試場地，盡量實現(xiàn)無反射的環(huán)境，如建造微波暗室等。